电子显微镜再获突破!磁性材料直接的原子分辨成像

时间:2019-08-21 来源:www.toryburchsora.com

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在传统的电子显微镜中,观察磁性材料的原子分辨率是特别困难的,因为高磁场不可避免地施加到磁性物体内的样品上。新开发的磁性物镜系统为样品位置提供无磁场环境。

这使得能够对诸如硅钢的磁性材料进行直接的原子分辨率成像。这种新型电子显微镜有望广泛应用于先进磁性材料的研究和开发。在日本科学技术厅的JST-SENTAN项目下,东京大学的Shibata Naoya教授和JEOL有限公司:

联合开发团队开发了革命性的电子显微镜,结合了新设计的磁性物镜,实现了材料子空间分辨率的直接原子分辨率成像,样品位置的残余磁场小于0.2 mT。据我们所知,这是第一次实现这一目标。自1931年发明透射电子显微镜(TEM)以来的88年中,研究人员一直在寻求更好的空间分辨率。有必要设计一种具有小透镜像差系数的磁性物镜。

已经实现了用于扫描TEM(STEM)像差校正透镜系统的亚空间分辨率。目前在原子分辨率TEMs/ste冷凝物物镜中使用的一个主要缺点是样品必须插入高达2-3吨的非常高的磁场中。这种高磁场会严重阻碍许多重要的软磁材料和硬磁材料(如硅钢)的原子分辨率成像,因为强磁场会极大地改变甚至破坏材料的磁性,有时甚至是物理结构。近年来,新的磁性材料迅速发展。由于原子级结构分析是上述技术的关键,因此长期以来一直需要解决这个问题。

件。因此,在样品中心附近产生的残余磁场远小于0.2mT,这是传统原子分辨率TEM/STEM成像磁性物镜的10,000倍。联合研究小组利用这一新系统观察了硅钢板的原子结构,这是最重要的软磁工程材料之一。

这种薄膜被用作变压器和电动机的核心材料,并且已经追求它们对各个缺陷的原子分辨率表征。利用新开发的透镜系统,可以清楚地观察到硅钢的解剖原子结构,实现了电子显微镜在非磁场环境中的直接原子分辨率成像,磁性材料的原子结构表征是前所未有的。新开发的电子显微镜操作方法与传统的TEM /秸秆相同,有望促进各种纳米技术领域的进一步研究和开发。

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博科公园

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2019.07.30 10: 36

字数858

在传统的电子显微镜中,观察磁性材料的原子分辨率是特别困难的,因为高磁场不可避免地施加到磁性物体内的样品上。新开发的磁性物镜系统为样品位置提供无磁场环境。

这使得能够对诸如硅钢的磁性材料进行直接的原子分辨率成像。这种新型电子显微镜有望广泛应用于先进磁性材料的研究和开发。在日本科学技术厅的JST-SENTAN项目下,东京大学的Shibata Naoya教授和JEOL有限公司:

联合开发团队开发了革命性的电子显微镜,结合了新设计的磁性物镜,实现了材料子空间分辨率的直接原子分辨率成像,样品位置的残余磁场小于0.2 mT。据我们所知,这是第一次实现这一目标。自1931年发明透射电子显微镜(TEM)以来的88年中,研究人员一直在寻求更好的空间分辨率。有必要设计一种具有小透镜像差系数的磁性物镜。

已经实现了用于扫描TEM(STEM)像差校正透镜系统的亚空间分辨率。目前在原子分辨率TEMs/ste冷凝物物镜中使用的一个主要缺点是样品必须插入高达2-3吨的非常高的磁场中。这种高磁场会严重阻碍许多重要的软磁材料和硬磁材料(如硅钢)的原子分辨率成像,因为强磁场会极大地改变甚至破坏材料的磁性,有时甚至是物理结构。近年来,新的磁性材料迅速发展。由于原子级结构分析是上述技术的关键,因此长期以来一直需要解决这个问题。

件。因此,在样品中心附近产生的残余磁场远小于0.2mT,这是传统原子分辨率TEM/STEM成像磁性物镜的10,000倍。联合研究小组利用这一新系统观察了硅钢板的原子结构,这是最重要的软磁工程材料之一。

这种薄膜被用作变压器和电动机的核心材料,并且已经追求它们对各个缺陷的原子分辨率表征。利用新开发的透镜系统,可以清楚地观察到硅钢的解剖原子结构,实现了电子显微镜在非磁场环境中的直接原子分辨率成像,磁性材料的原子结构表征是前所未有的。新开发的电子显微镜操作方法与传统的TEM /秸秆相同,有望促进各种纳米技术领域的进一步研究和开发。

在传统的电子显微镜中,观察磁性材料的原子分辨率是特别困难的,因为高磁场不可避免地施加到磁性物体内的样品上。新开发的磁性物镜系统为样品位置提供无磁场环境。

这使得能够对诸如硅钢的磁性材料进行直接的原子分辨率成像。这种新型电子显微镜有望广泛应用于先进磁性材料的研究和开发。在日本科学技术厅的JST-SENTAN项目下,东京大学的Shibata Naoya教授和JEOL有限公司:

联合开发团队开发了革命性的电子显微镜,结合了新设计的磁性物镜,实现了材料子空间分辨率的直接原子分辨率成像,样品位置的残余磁场小于0.2 mT。据我们所知,这是第一次实现这一目标。自1931年发明透射电子显微镜(TEM)以来的88年中,研究人员一直在寻求更好的空间分辨率。有必要设计一种具有小透镜像差系数的磁性物镜。

已经实现了用于扫描TEM(STEM)像差校正透镜系统的亚空间分辨率。目前在原子分辨率TEMs/ste冷凝物物镜中使用的一个主要缺点是样品必须插入高达2-3吨的非常高的磁场中。这种高磁场会严重阻碍许多重要的软磁材料和硬磁材料(如硅钢)的原子分辨率成像,因为强磁场会极大地改变甚至破坏材料的磁性,有时甚至是物理结构。近年来,新的磁性材料迅速发展。由于原子级结构分析是上述技术的关键,因此长期以来一直需要解决这个问题。

件。因此,在样品中心附近产生的残余磁场远小于0.2mT,这是传统原子分辨率TEM/STEM成像磁性物镜的10,000倍。联合研究小组利用这一新系统观察了硅钢板的原子结构,这是最重要的软磁工程材料之一。

这种薄膜被用作变压器和电动机的核心材料,并且已经追求它们对各个缺陷的原子分辨率表征。利用新开发的透镜系统,可以清楚地观察到硅钢的解剖原子结构,实现了电子显微镜在非磁场环境中的直接原子分辨率成像,磁性材料的原子结构表征是前所未有的。新开发的电子显微镜操作方法与传统的TEM /秸秆相同,有望促进各种纳米技术领域的进一步研究和开发。